模拟芯片长期使用环境（高温、低温、温湿度循环、振动、电应力），开展寿命测试（如高温储存、温度循环、电迁移测试），监测芯片性能（电参数、功能完整性）随时间的变化。依据 AEC-Q100 等标准，评估芯片在预期寿命内的稳定运行能力，确保其满足汽车、工业、消费电子等领域的可靠性需求。
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